常见问题
X射线衍射检测需要多长时间？
通常7-15个工作日，具体时间根据样品类型和检测项目数量确定。
X射线衍射检测费用大概多少？
根据检测项目数量确定，常规物相分析费用相对固定，原位变温等复杂测试费用会有所增加。
X射线衍射检测对样品有什么要求？
粉末样品需研磨至微米级，块状样品需平整且具有一定面积，单晶样品需具有规则晶面。
检测信息
X射线衍射是一种利用X射线在晶体中的衍射现象来分析物质内部原子空间分布的物理检测技术，广泛应用于材料科学、化学化工、地质矿产和制药等领域。
检测目的在于确定样品的物相组成、晶体结构、晶胞参数及结晶度，涉及X射线发生、衍射光路控制、衍射强度测量等核心技术手段。
检测流程包括样品制备、X射线照射、衍射图谱采集和数据分析，核心参数涵盖衍射角、衍射峰强度和半高宽。
X射线衍射检测项目
- 物相定性分析：判定样品中包含的晶体物相种类。
- 物相定量分析：测定混合物中各物相的质量分数或体积分数。
- 晶胞参数测定：计算晶体的点阵常数以表征晶体结构特征。
- 结晶度计算：评估材料中结晶区与非结晶区的比例。
- 晶粒尺寸计算：通过衍射峰半高宽计算晶粒的平均尺寸。
- 微观应变测定：分析晶格畸变引起的衍射峰宽化效应。
- 残余应力测定：通过衍射峰位移计算材料内部的宏观残余应力。
- 宏观织构测定：分析多晶材料中晶粒的择优取向分布。
- 薄膜厚度测定：通过X射线反射法测量薄膜的厚度及密度。
- 薄膜粗糙度测定：评估薄膜表面及界面的粗糙程度。
- 晶体结构解析：确定原子在晶胞中的具体坐标位置。
- 空间群判定：根据消光规律确定晶体所属的空间群。
- 密度测定：通过晶胞参数和晶胞内原子数计算理论密度。
- 固溶度分析：通过晶格常数变化判断固溶体的溶解度极限。
- 相变温度测定：利用原位变温技术分析晶体结构随温度的变化。
- 热膨胀系数测定：通过加热过程中晶胞参数的变化计算热膨胀系数。
- 层间距离测定：计算层状材料的层间距以评估插层效果。
- 分子取向测定：分析聚合物或纤维中分子链的取向度。
- 缺陷分析：通过衍射峰形变化评估晶体内部的位错等缺陷。
- 结晶度指数计算：用于半结晶聚合物的结晶相定量评估。
- 晶面间距测定：通过布拉格方程计算特定晶面的面间距。
- 衍射峰强度比：用于比较不同物相的相对含量或结晶完整性。
检测范围
- 粉末X射线衍射仪
- 单晶X射线衍射仪
- 微区X射线衍射仪
- 高分辨X射线衍射仪
- 小角X射线散射仪
- 广角X射线衍射仪
- 原位X射线衍射装置
- 旋转阳极X射线衍射仪
- 液态金属X射线衍射仪
- 薄膜X射线衍射仪
- 纤维X射线衍射仪
- 应力测定X射线衍射仪
- 织构测定X射线衍射仪
- 同步辐射X射线衍射设备
- 能量色散X射线衍射仪
- 角度色散X射线衍射仪
- 残余奥氏体X射线衍射仪
- 纳米材料X射线衍射仪
- 蛋白质晶体X射线衍射仪
- 多晶X射线衍射仪
- 单晶四圆X射线衍射仪
- 高温原位X射线衍射装置
- 低温原位X射线衍射装置
检测标准（部分）
- GB/T 39520-2020 弹簧残余应力的X射线衍射测试方法
- GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法
- JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
- GB/T 45597-2025 金属材料 残余应力测定 短波长X射线衍射法
- GB/T 36923-2018 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法
- JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪
- GB/T 45335-2025 凹凸棒石相含量的测定 X射线衍射-标准曲线法
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
- GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
- JC/T 2974-2026 非金属矿物 X 射线衍射分析方法
- GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
- JB/T 9400-2010 X射线衍射仪 技术条件
- GA/T 2079-2023 法庭科学 矿物检验 X射线衍射法
- JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则
- YB/T 172-2020 硅砖定量相分析 X射线衍射法
- YS/T 1178-2024 铝灰渣物相分析 X射线衍射法
- GB/T 39860-2021 胶乳制品表面残余矿物粉末的快速鉴别 X-射线衍射法
- GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
- SN/T 4760-2017 进口锌精矿鉴别 X射线衍射法
检测方法
- 粉末衍射法：将样品研磨成粉末后进行衍射图谱采集。
- 单晶衍射法：使用单颗晶体样品进行结构解析。
- 变温原位法：在不同温度条件下实时采集衍射数据。
- 变湿原位法：在不同湿度条件下实时采集衍射数据。
- X射线反射法：用于薄膜厚度和界面粗糙度分析。
- 小角X射线散射法：用于纳米级颗粒尺寸和形状分析。
- 广角X射线衍射法：用于晶体结构和物相分析。
- 同步辐射法：利用高亮度同步辐射光源进行高精度衍射。
- 应力测定法：通过不同角度的衍射峰位移计算残余应力。
- 织构测定法：通过极图或反极图分析晶粒取向分布。
- 能量色散法：使用能量色散探测器同时采集不同能量的衍射信号。
- 旋转晶体法：通过旋转单晶体以获得完整的衍射数据。
总结
X射线衍射是分析物质晶体结构的检测技术，覆盖物相定性定量分析和结晶度测定。检测周期通常为7-15个工作日，可提供晶体学数据支持。
相关检测
旗下实验室资质
我司旗下实验室具备CMA资质认定及CNAS认可和ISO认证等证书，具体项目是否在资质认定/实验室认可范围内请与工程师确认。
检测服务常见问题
检测报告多久可以出具？
检测报告一般7~15个工作日出具，支持加急服务，具体周期与检测项目相关。
如何获取这个项目的检测报价？
可点击页面在线咨询，说明样品与检测需求后即可获取检测项目与报价建议。
样品如何送检？
支持寄样检测与上门取样两种方式，样品保存与寄送要求可在咨询时获取指引。
