XRD检测项目
- 物相定性分析：通过与标准数据库比对，判定样品中包含的晶体物相种类。
- 物相定量分析：依据衍射峰强度，计算混合物中各晶态物相的相对含量比例。
- 结晶度测定：通过分离晶相与非晶相的散射强度，评估聚合物的结晶程度。
- 晶粒尺寸计算：利用谢乐公式计算晶粒在特定晶面方向的平均尺寸。
- 微观应变测定：根据衍射峰的半高宽变化，分析材料内部的残余应变状态。
- 点阵常数测定：通过精修衍射峰位置，计算晶体的晶胞参数a、b、c及角度值。
- 残余应力分析：通过测定不同角度下的衍射峰位移，计算材料表层的宏观残余应力。
- 织构分析：通过极图测量分析多晶材料中晶粒的择优取向分布状态。
- 薄膜厚度测定：结合X射线反射率分析薄膜的厚度与密度信息。
- 结构精修：利用Rietveld方法对晶体结构原子坐标、占位率进行精细拟合修正。
- 宏观取向测定：通过欧拉环测定单晶或织构材料的宏观取向关系。
- 晶体缺陷分析：根据衍射峰形的不对称性或宽化现象推断位错等晶体缺陷。
- 高低温相变分析：在变温条件下连续扫描，确定材料的相变温度点与相变过程。
- 气氛原位反应分析：在特定气体气氛下加热，实时监测反应过程中的物相演化。
- 外延薄膜失配度计算：通过高分辨XRD测量外延层与衬底的倒易空间分布。
- 非晶结构分析：通过径向分布函数分析非晶态材料的短程有序结构。
- 层状结构表征：分析层状化合物的层间距与堆垛方式。
- 择优取向判定：通过相对强度比判定多晶材料的生长择优取向。
- 空间群判定：通过消光规律分析确定晶体所属的230种空间群类型。
- 晶面间距测定：依据布拉格方程计算特定衍射峰对应的晶面间距d值。
检测范围
- 多晶粉末样品XRD测试
- 块状固体样品XRD测试
- 薄膜样品XRD测试
- 纳米材料XRD物相分析
- 金属材料残余应力测定
- 矿物岩石物相鉴定
- 水泥熟料矿物组成分析
- 陶瓷材料晶相结构分析
- 高分子聚合物结晶度测定
- 催化剂活性组分物相分析
- 药物多晶型筛选测试
- 半导体外延层结构表征
- 电池正极材料物相分析
- 电池负极材料物相分析
- 腐蚀产物物相鉴定
- 玻璃非晶态与晶态比例测定
- 焊缝金属析出相分析
- 黏土矿物定向薄片测试
- 晶体结构精修分析
- 变温原位XRD测试
- 小角X射线散射联用测试
检测标准（部分）
- GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
- BS ISO 23071:2021 Refractory products. Determination of reduced species in carbon containing refractories by XRD
- ASTM F3419-22 Standard Test Method for Mineral Characterization of Equine Surface Materials by X-Ray Diffraction (XRD) Techniques
- ISO 21068-4:2024 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon — Part 4: XRD methods
- 20255179-T-469 含碳化硅、氮化硅、氧氮化硅和赛隆耐火材料化学分析方法 第4部分：XRD法
- UNE-EN 12698-2:2007 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories - Part 2: XRD methods
- DIN EN ISO 21068-4:2024-11 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 4: XRD methods (ISO 21068-4:2024)
- DIN EN 12698-2:2007-06 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories - Part 2: XRD methods
- ISO 23071:2021 Refractory products — Determination of reduced species in carbon containing refractories by XRD
- DIN EN ISO 21068-4:2023-07 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 4: XRD methods (ISO/DIS 21068-4:2023); German and English version prEN ISO 21068-4:2023
- EN 12698-2:2007 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories - Part 2: XRD methods
- BS EN 12698-2:2007 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories-XRD methods
- GB/T 47098-2026 耐火材料 X射线衍射法测定含碳耐火材料中的还原性物质
- GA/T 1422-2017 法庭科学常见火炸药组分检验 X射线衍射法
- ISO 22278:2020 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
- GB/T 47625-2026 精细陶瓷 平行光束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶圆）结晶质量
- BS ISO 22278:2020 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
- SN/T 3514-2013 电工钢晶粒取向与无取向鉴定方法 X射线衍射测定织构法
- EN ISO 21068-4:2024 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 4: XRD methods (ISO 21068‑4:2024)
检测方法
- 粉末衍射法（采用布拉格-布伦塔诺聚焦几何光路进行广角扫描）
- 掠入射X射线衍射法（GIXRD，用于极薄膜表面物相分析）
- X射线反射率法（XRR，用于测定薄膜厚度、密度与粗糙度）
- 变温原位XRD法（在加热或冷却过程中实时采集衍射图谱）
- Rietveld全谱拟合方法（对整个衍射图谱进行结构精修与定量相分析）
- 谢乐公式计算法（基于衍射峰半高宽计算平均晶粒尺寸）
- Warren-Averbach方法（利用傅里叶变换分析晶粒尺寸与微观应变分布）
- 极图测量法（通过测定极密度分布表征材料的择优取向）
- 倒易空间分布测量法（用于分析外延薄膜的弛豫状态与 mosaicity）
- 双晶衍射法（用于高分辨单晶摇摆曲线与缺陷分析）
- 径向分布函数分析法（用于非晶态和液态材料的短程有序结构解析）
检测信息
XRD是一种利用X射线在晶体中的衍射现象来分析物质晶体结构、物相组成和结晶度的表征技术，广泛应用于材料科学、地质矿产、化学化工及冶金等领域。
检测目的在于确定样品的物相种类、晶体结构参数以及晶粒尺寸等微观信息，涉及的技术手段包括X射线衍射仪的扫描测试与衍射图谱解析。
检测流程涵盖样品制备、仪器参数设定、连续扫描采集衍射数据以及与标准数据库比对进行物相定性或定量分析，核心参数包括2θ角度范围、扫描步长和衍射峰强度。
常见问题
XRD检测需要多长时间？通常7-15个工作日
常规XRD检测周期为7-15个工作日，具体时间会根据样品制备的复杂程度及是否需要原位变温等特殊测试条件而有所延长。
XRD检测费用大概多少？根据检测项目数量确定
检测费用根据实际选定的测试项目数量及测试要求确定，常规粉末或块体物相分析收费较低，薄膜掠入射或变温原位测试因耗时较长会有所增加。
XRD测试对样品有什么要求？
粉末样品一般需要研磨至200目以上且无明显颗粒感，块状样品需满足特定尺寸要求并具有平整的测试面，薄膜样品需提供合适的基片。
总结
XRD是分析物质晶体结构与物相组成的检测技术，覆盖物相定性定量及结晶度测试。
相关检测
旗下实验室资质
我司旗下实验室具备CMA资质认定及CNAS认可和ISO认证等证书，具体项目是否在资质认定/实验室认可范围内请与工程师确认。
检测服务常见问题
检测报告多久可以出具？
检测报告一般7~15个工作日出具，支持加急服务，具体周期与检测项目相关。
如何获取这个项目的检测报价？
可点击页面在线咨询，说明样品与检测需求后即可获取检测项目与报价建议。
样品如何送检？
支持寄样检测与上门取样两种方式，样品保存与寄送要求可在咨询时获取指引。
