揭秘GB/T 19501-2013:微束电子背散射衍射方法检测指南

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揭秘GB/T 19501-2013:微束电子背散射衍射方法检测指南

概括

微束电子背散射衍射(EBSD)是一种高精度材料分析方法,可用于研究材料的晶体取向、相鉴定及微观组织特性。GB/T 19501-2013标准对该方法的基本原理、实验操作及数据分析作出详细规定。本篇文章将带您深入了解该标准的检测流程及关键技术。

检测样品

进行EBSD检测时,样品的制备至关重要。检测样品通常为金属材料、陶瓷、半导体等,且表面必须经过精细抛光,以减少电子束散射对信号的影响。此外,样品需具备适当的尺寸和导电性,以满足电子显微镜的操作要求。

检测项目

EBSD检测可提供丰富的晶体学信息,主要检测项目包括:

  • 晶粒取向分布:分析材料的各向异性及织构特性。
  • 相鉴定:区分不同晶相,辅助材料研究与优化。
  • 位错及应变分析:研究材料内部缺陷,评估其力学性能。
  • 晶界特性:判断晶界类型,如孪晶界或高角度晶界。

检测仪器

GB/T 19501-2013标准要求使用带有EBSD探测器的扫描电子显微镜(SEM)进行检测。核心设备包括:

  • 场发射扫描电子显微镜(FE-SEM):提供稳定的电子束,提高图像分辨率。
  • EBSD探测器:用于捕捉电子衍射花样,进行晶体取向分析。
  • 能谱仪(EDS):可与EBSD联合使用,实现元素及相分析。

检测方法

EBSD检测需遵循严格的实验流程,以确保数据的准确性:

  1. 样品制备:采用机械抛光电解抛光,去除表面损伤层。
  2. 电子束参数调整:优化加速电压工作距离,提升衍射信号质量。
  3. 数据采集:使用EBSD探测器获取衍射花样,进行晶体取向分析。
  4. 后处理分析:应用后向散射图像极图,解读材料的晶体结构特征。

检测标准(部分)

《 GB/T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 》标准简介

  • 标准名称:微束分析 电子背散射衍射分析方法通则
  • 标准号:GB/T 19501-2013
    中国标准分类号:G04
  • 发布日期:2013-07-19
    国际标准分类号:71.040.50
  • 实施日期:2014-03-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:代替GB/T 19501-2004
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学物理化学分析方法
  • 内容简介:

    国家标准《微束分析 电子背散射衍射分析方法通则》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。

    本标准规定了电子背散射衍射分析方法。本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。

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结语

GB/T 19501-2013标准为微束电子背散射衍射方法提供了详细的技术指导,广泛应用于材料科学、地质学、冶金工程等领域。通过EBSD检测,可深入揭示材料的微观组织,优化生产工艺,提高材料性能。未来,该技术将继续发挥重要作用,为新材料研发提供可靠的数据支持。

结语

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