芯片级封装材料检测

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综合性检验测试研究所

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信息概要

芯片级封装材料检测是半导体产业链中的关键环节,主要针对封装过程中使用的各类材料进行性能与可靠性评估,确保其在高温、高湿、机械应力等复杂环境下的稳定性。第三方检测机构通过独立、客观的正规服务,为封装材料提供从研发到量产的全流程质量保障,涵盖外观、机械性能、热学特性等多项指标。此类检测对预防封装失效(如气密性不足、材料分层等)、提升产品寿命及市场竞争力至关重要。 芯片级封装材料直接影响半导体器件的可靠性和性能,检测可识别材料缺陷(如裂纹、气洞)、评估环境适应性(如湿热老化)、验证电热机械特性等。通过加速老化、失效分析等技术手段,第三方机构帮助企业优化材料选择与工艺设计,降低量产风险。

检测项目

  • 外观检测(空隙、划痕、凹坑等缺陷)
  • 颜色检测(EMI屏蔽变色、镀层缺陷)
  • 湿热老化测试(湿热环境下的性能衰减)
  • 热机械分析(热膨胀系数、Tg值)
  • 动态机械分析(弹性模量、剪切模量)
  • 潮气含量和扩散测试(吸湿性能评估)
  • 抗腐蚀性测试(离子迁移风险)
  • 层叠封装缺陷检测(2D/3D结构缺陷)
  • 微裂检测(硅或模具裂纹)
  • 纤维污染检测(材料纯净度)
  • 脱落检测(材料粘结强度)
  • 气洞检测(封装内部空洞)
  • 无源设备检测(器件完整性)
  • 热传导分析(散热性能)
  • 湿热应力分析(环境应力下的变形)
  • 引脚封装完整性(如TSOP、QFP)
  • 球形凸点封装可靠性(如BGA、CSP)
  • 焊盘封装性能(如QFN、BCC)
  • 平面网格阵列封装测试(如LGA)
  • 密封性测试(气密性与水密性)

检测范围

  • 引脚封装(TSOP、QFP)
  • 球形凸点封装(BGA、CSP、WLP)
  • 焊盘封装(QFN、BCC)
  • 平面网格阵列封装(LGA)
  • 层叠封装(互联封装)
  • 微胶囊封装材料(蛋白质类、天然聚合物类)
  • 环氧塑封料
  • LED封装材料
  • 先进封装材料(UF、TIM、AD胶)
  • 载板材料
  • 引线框架材料
  • 键合丝
  • 包封材料
  • 塑料包装材料
  • 医疗器械包装材料
  • 硅基封装材料
  • 陶瓷封装材料
  • 金属封装材料
  • 导热界面材料
  • 电磁屏蔽材料

检测方法

  • 视觉检查:目视或光学仪器检测表面缺陷与密封完整性
  • 加速老化试验:模拟长期环境暴露评估材料寿命
  • 显微组织检验:显微镜观察材料内部结构
  • 机械性能测试:拉伸、硬度等测试评估强度
  • 化学分析:成分检测确保符合标准
  • 热分析:TMA/DMA测量热膨胀与模量
  • 电性能测试:电导率与绝缘性能评估
  • 微生物屏障测试:阻隔微生物能力分析
  • 压力锅蒸煮试验(PCT):高温高压湿气渗透测试
  • 高温高湿电加速试验(THB):通电状态下湿热老化
  • 高加速应力试验(HAST):高压湿热与电应力协同测试
  • 温度循环试验:评估热应力下的机械稳定性
  • 功率和温度循环(PTC):复合温度与通电状态测试
  • 声学显微镜检测:非破坏性内部缺陷扫描
  • X射线检测:内部结构成像与缺陷定位

检测仪器

  • 热机械分析仪(TMA)
  • 动态机械分析仪(DMA)
  • 扫描电子显微镜(SEM)
  • 聚焦离子束设备(FIB)
  • 显微红外光谱仪
  • 拉力试验机
  • 硬度计
  • 湿热试验箱
  • 高加速应力试验箱(HAST)
  • 压力锅蒸煮试验设备(PCT)
  • X射线检测仪
  • 声学显微镜
  • 热导率测试仪
  • 电化学工作站
  • 气相色谱仪

结语

以上是关于芯片级封装材料检测的介绍,如有其它问题请 联系在线工程师

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