硅检测

第三方科研检测机构

综合性检验测试研究所

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信息概要

工业硅(又称金属硅)是由硅石和碳质还原剂在矿热炉内冶炼而成的产品,主成分硅元素含量通常在98%以上,其余杂质包括铁、铝、钙等。作为现代工业尤其是高科技产业的关键材料,工业硅广泛应用于合金配制、多晶硅制备、有机硅生产等领域,被誉为“魔术金属”。随着新能源产业的快速发展,工业硅的质量控制需求日益严格,第三方检测机构通过正规服务确保其化学成分、粒度、外观等指标符合国家标准(如GB/T 2881-2014)或国际规范,对保障下游产品性能及产业链安全至关重要。

检测项目

  • 硅含量检测
  • 铁含量检测
  • 铝含量检测
  • 钙含量检测
  • 硼含量检测
  • 磷含量检测
  • 水分检测
  • 氧化钙含量检测
  • 细度检测
  • 粒度分布分析
  • 表面金属离子分析(Na、Mg、K等)
  • 表面有机污染物检测
  • 载流子浓度
  • 电阻率
  • 碳氧含量
  • 表面缺陷检测(划伤、裂纹等)
  • 施主杂质分析(铝、镓等)
  • 受主杂质分析(硼、铟等)
  • 重金属含量(如铅、汞)
  • VOC(挥发性有机物)检测

检测范围

  • 高纯工业硅
  • 工业硅凝胶
  • 冶炼工业硅
  • 精炼工业硅
  • 工业硅粉
  • 硅抛光片
  • 硅外延片
  • SOI片
  • 氩退火片
  • 碳化硅片
  • 硅基氮化镓外延片
  • 2寸晶圆
  • 4寸晶圆
  • 6寸晶圆
  • 8寸晶圆
  • 12寸晶圆
  • 有机硅化合物
  • 硅溶胶
  • 硅酸铅
  • 硅酸镁

检测方法

  • ICP-MS(电感耦合等离子体质谱法):高精度测定微量元素含量
  • GC-MS(气相色谱-质谱联用法):分析有机污染物及挥发性成分
  • TXRF(全反射X射线荧光法):表面金属离子快速检测
  • 离子色谱法:测定阴离子及杂质分布
  • 磷钼蓝分光光度法:专用于磷含量测定
  • 汞探针CV法:载流子浓度与电阻率测试
  • D-SIMS(动态二次离子质谱):深度剖析掺杂元素
  • X射线衍射(XRD):晶体结构分析
  • 原子力显微镜(AFM):表面形貌与粗糙度检测
  • 激光粒度分析:粒度分布测量
  • 热重分析法(TGA):水分及挥发分测定
  • 紫外-可见分光光度法:特定元素定量分析
  • 电子显微镜(SEM/EDS):表面缺陷与成分联用分析
  • 火花直读光谱法:快速多元素同步检测
  • 化学滴定法:传统元素含量测定

检测仪器

  • 电感耦合等离子体质谱仪
  • 气相色谱-质谱联用仪
  • 离子色谱仪
  • 全反射X射线荧光仪
  • 汞探针CV设备
  • 动态二次离子质谱仪
  • X射线衍射仪
  • 原子力显微镜
  • 激光粒度分析仪
  • 热重分析仪
  • 紫外-可见分光光度计
  • 扫描电子显微镜
  • 能量色散X射线光谱仪
  • 火花直读光谱仪
  • 自动化学滴定仪

结语

以上是关于硅检测的介绍,如有其它问题请 联系在线工程师

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