锗检测

第三方科研检测机构

综合性检验测试研究所

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信息概要

锗作为重要的半导体材料和电子工业原料,其纯度、杂质含量及物理化学性能直接影响光纤通信、光伏电池、红外光学器件等高端领域的应用性能。第三方检测机构通过高精度仪器与标准化方法,为锗原料、中间体及成品提供全面检测服务,确保其符合国际标准(如SEMI、ISO)及行业规范。检测涵盖纯度分析、金属杂质、晶格参数、电学性能等关键指标,对保障产品质量、优化生产工艺及满足出口管制要求(如美国BIS法规)具有重要作用。

检测项目

  • 主成分纯度(GeCl₄≥99.999%)
  • 氯离子浓度(Cl⁻ 0.1-1000ppm)
  • 金属杂质总量(Fe、Cu、Ni等≤0.5ppm)
  • 水分含量(H₂O≤10ppm)
  • 密度测定(1.879±0.005g/cm³)
  • 晶格常数及晶面间距
  • 载流子浓度与迁移率
  • 电阻率与霍尔效应参数
  • 热导率及热膨胀系数
  • 表面粗糙度与平整度
  • 光学透过率与折射率
  • 抗压强度与弯曲强度
  • 晶界特性与位错密度
  • 气体杂质(AsH₃、PH₃≤0.05ppb)
  • 颗粒物洁净度(≥0.1μm)
  • 氧含量(O₂≤1ppm)
  • 化学稳定性与抗腐蚀性
  • 生物相容性评估
  • 放射性残留检测
  • 纳米级缺陷分析

检测范围

  • 光纤预制棒合成用高纯GeCl₄原料
  • 半导体级锗外延片中间体
  • CVD工艺前驱体材料
  • 有机锗化合物合成原料
  • 电子级特种气体混合物(如锗烷)
  • 锗单晶及多晶材料
  • 再生锗原料及废料
  • 红外光学用锗晶体
  • 锗探测器(X/γ射线)
  • 光伏电池用锗衬底
  • 锗纳米颗粒及薄膜材料
  • 锗基合金材料
  • 锗掺杂半导体材料
  • 锗医疗器件组件
  • 锗催化剂及化学试剂
  • 锗尾矿及冶炼副产品
  • 锗靶材及镀膜材料
  • 锗基热电材料
  • 锗聚合物复合材料
  • 锗同位素分离产物

检测方法

  • 气相色谱法(GC) - 测定挥发性成分纯度
  • 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS) - ppq级痕量金属分析
  • 辉光放电质谱法(GD-MS) - 高纯锗杂质深度剖析
  • X射线衍射(XRD) - 晶体结构解析
  • 扫描电子显微镜(SEM) - 表面形貌与缺陷观测
  • 霍尔效应测试 - 载流子浓度与迁移率测定
  • 激光粒度分析 - 颗粒物分布检测
  • 四探针电阻率测试 - 电学性能评估
  • 傅里叶变换红外光谱(FTIR) - 气体组分定性定量
  • 化学发光检测法(CLD) - 剧毒气体痕量分析
  • 差示扫描量热法(DSC) - 热性能与相变研究
  • 二次离子质谱(SIMS) - 元素深度分布检测
  • 原子力显微镜(AFM) - 纳米级表面力学特性
  • 激光拉曼光谱 - 分子振动模式分析
  • 库仑法水分测定 - 微量水精确控制

检测仪器

  • Agilent 7900电感耦合等离子体质谱仪
  • Thermo Scientific iCAP PRO XPS ICP-OES
  • Shimadzu GC-2030气相色谱仪
  • Bruker S8 TIGER波长色散X荧光光谱仪
  • Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪
  • PerkinElmer Clarus SQ8 GC/MS联用仪
  • HORIBA LA-960纳米粒度分析仪
  • Metrohm 899 Coulometric卡尔费休水分仪
  • FEI Nova NanoSEM 450场发射扫描电镜
  • Mettler Toledo DE40数字密度计
  • JXA-8100电子探针显微分析仪
  • MAT-253稳定同位素质谱仪
  • Linkam地质冷热台系统
  • Axio Imager M2m透反射偏光显微镜
  • Element 2高分辨率ICP-MS

结语

以上是关于锗检测的介绍,如有其它问题请 联系在线工程师

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