第三方检测机构
咨询热线：400-635-0567
投诉举报：010-82491398
企业邮箱：010@yjsyi.com
单位地址：北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
检测样品
在进行二极管检测时，样品的选择至关重要。合适的检测样品应具备以下几个特点：首先，二极管本身应是完整的、未受损的，避免检测中因损坏元件而影响结果。其次，二极管的类型也需要明确，例如硅二极管、锗二极管、肖特基二极管等不同类型，其电性特性和检测方法有所不同。对于高频、功率型或光电二极管等特殊品种，还应考虑其工作环境和用途，选择适合其特性的检测方法。最终，确保所选样品符合国家和行业标准，是确保测试准确性和有效性的基础。
检测项目
二极管的检测项目包括但不限于以下几个方面：
- 正向电压降（Forward Voltage Drop）：测试二极管在正向电流下的电压降，通常在规定的电流值下进行，正常二极管的正向电压降在0.7V左右。
- 反向电流（Reverse Leakage Current）：测试二极管在反向电压作用下的电流泄漏。良好的二极管在反向时应该几乎无电流通过。
- 反向击穿电压（Reverse Breakdown Voltage）：测试二极管在反向电压下能承受的最大电压，超出该电压可能导致二极管永久损坏。
- 整流效率：测量二极管在不同频率下的整流性能，以评估其在实际电路中的表现。
- 热稳定性测试：评估二极管在高温环境下的工作稳定性。
这些检测项目能够帮助工程师评估二极管的性能，确保其在特定环境中的稳定运行。
检测仪器
在进行二极管检测时，选用合适的检测仪器至关重要。常见的检测仪器包括：
- 万用表：这是最基本的检测工具，用于测试二极管的正向电压降和反向电流。万用表可以在“二极管测试”模式下直接显示正向电压和反向电阻。
- 示波器：用于分析二极管在高频信号下的响应，尤其是肖特基二极管和快速恢复二极管。
- LCR表：主要用于测量二极管的电感、电容和电阻特性，适用于更复杂的二极管测试。
- 高温测试炉：用于在高温条件下测试二极管的热稳定性。
选用合适的仪器，不仅能够提高测试效率，还能确保检测结果的精确性，从而为工程师提供可靠的数据支持。
检测方法
二极管的检测方法一般包括直流测试法、交流测试法以及特殊环境下的高温或低温测试。常见的检测步骤如下：
- 正向电流测试：将二极管连接到直流电源，并通过万用表测量其正向电压降。正常的二极管在正向电流下会有一个典型的电压降（通常在0.6V-0.7V之间）。
- 反向电流测试：将电源极性反转，测试二极管在反向时的电流，理想的二极管应具有极低的反向电流。
- 反向击穿测试：逐步增加反向电压，直至二极管发生击穿。此时，记录其反向击穿电压。
- 高温测试：在高温环境中测试二极管的性能变化，评估其在恶劣条件下的稳定性。
每个测试步骤都需要在精确控制的环境中进行，以确保结果的准确性和可靠性。
检测标准（部分）
《 T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法 》标准简介
- 标准名称：有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法
- 标准号：T/HBAI 001-2024
- 中国标准分类号：C397
- 发布日期：2024-10-17
- 国际标准分类号：31.120
- 实施日期：2024-10-25
- 团体名称：湖北省人工智能学会
- 标准分类：电子学C 制造业
- 内容简介：
本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化的分级标准及实验条件、方法
本文件主要适用于有机发光二极管显示器
本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型
包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。
《 GB/T 44081-2024 光伏组件用旁路二极管热失控测试 》标准简介
- 标准名称：光伏组件用旁路二极管热失控测试
- 标准号：GB/T 44081-2024
- 中国标准分类号：F12
- 发布日期：2024-05-28
- 国际标准分类号：27.160
- 实施日期：2024-12-01
- 技术归口：全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会
- 代替标准：
- 主管部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：能源和热传导工程太阳能工程
- 内容简介：
国家标准《光伏组件用旁路二极管热失控测试》由TC90（全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件描述了一种光伏组件旁路用二极管热失控的试验方法。该试验方法用于评估已经安装在光伏组件中的旁路二极管是否容易发生热失控现象，或者在从正向偏置转变为反向偏置时，接线盒的散热能力是否使二极管不过热。本文件适用于肖特基二极管的测试，因为肖特基二极管具有在高温下漏电流随反向偏压提高而增大的特性，这个特性使得肖特基二极管容易发生热失控现象。使用P-N结二极管作为旁路二极管的试样不需要进行本文件要求的热失控试验方，因为P-N结二极管具有很强的承受反向偏压的能力。
《 GB/T 20871.12-2024 有机发光二极管显示器件 第1-2部分：术语与文字符号 》标准简介
- 标准名称：有机发光二极管显示器件 第1-2部分：术语与文字符号
- 标准号：GB/T 20871.12-2024
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2024-04-25
- 国际标准分类号：31.120
- 实施日期：2024-08-01
- 技术归口：全国电子显示器件标准化技术委员会
- 代替标准：代替GB/T 20871.2-2007
- 主管部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学电子显示器件
- 内容简介：
国家标准《有机发光二极管显示器件 第1-2部分：术语与文字符号》由TC547（全国电子显示器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件界定了有机发光二极管显示器件优先采用的术语、定义和文字符号。本文件适用于使用有机发光二极管显示器件的场合下对术语和文字符号的规范。
《 GB/T 20871.61-2024 有机发光二极管显示器件 第6-1部分：光学和光电参数测试方法 》标准简介
- 标准名称：有机发光二极管显示器件 第6-1部分：光学和光电参数测试方法
- 标准号：GB/T 20871.61-2024
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2024-04-25
- 国际标准分类号：31.120
- 实施日期：2024-08-01
- 技术归口：全国电子显示器件标准化技术委员会
- 代替标准：代替GB/T 20871.61-2013
- 主管部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学电子显示器件
- 内容简介：
国家标准《有机发光二极管显示器件 第6-1部分：光学和光电参数测试方法》由TC547（全国电子显示器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件描述了有机发光二极管（OLED）显示屏和显示模块的光学和光电参数标准测试条件和测试步骤。本文件适用于暗室条件下，OLED显示器件测试。
《 WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法 》标准简介
- 标准名称：硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
- 标准号：WJ 2100-2004
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2004-09-01
- 国际标准分类号：31.260
- 实施日期：2004-12-01
- 技术归口：中国兵器工业标准化研究所
- 代替标准：代替WJ 2100-1992
- 主管部门：
- 标准分类：电子学WJ 兵工民品
- 内容简介：
本标准规定了硅光电二极管、硅雪崩光电二极管的测试方法。本标准适用于硅光电二极管、硅雪崩光电二极管(以下简称二极管)性能参数的测试，其它材料制作的半导体光电二极管性能参数的测试可参照使用。
《 SJ 20644.1-2001 半导体光电子器件.GD3550Y型PIN光电二极管详细规范 》标准简介
- 标准名称：半导体光电子器件.GD3550Y型PIN光电二极管详细规范
- 标准号：SJ 20644.1-2001
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2001-12-27
- 国际标准分类号：31.260
- 实施日期：2002-01-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学SJ 电子
- 内容简介：
本规范规定了军用GD3550Y型PIN光电二极管(以下简称“器件”)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。
《 SJ 20644.2-2001 半导体光电子器件.GD101型PIN光电二极管详细规范 》标准简介
- 标准名称：半导体光电子器件.GD101型PIN光电二极管详细规范
- 标准号：SJ 20644.2-2001
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2001-12-27
- 国际标准分类号：31.260
- 实施日期：2002-01-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学SJ 电子
- 内容简介：
本规范规定了GD101型PIN光电二极管(以下简称“器件”)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。
《 SJ/T 10954-1996 电子元器件详细规范 2CK120型硅开关二极管（可供认证用） 》标准简介
- 标准名称：电子元器件详细规范 2CK120型硅开关二极管（可供认证用）
- 标准号：SJ/T 10954-1996
- 中国标准分类号：L41
- 发布日期：1996-11-20
- 国际标准分类号：31.020
- 实施日期：1997-01-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学SJ 电子
- 内容简介：
《 QJ 2566-1993 瞬变电压抑制硅二极管详细规范 》标准简介
- 标准名称：瞬变电压抑制硅二极管详细规范
- 标准号：QJ 2566-1993
- 中国标准分类号：V25
- 发布日期：1993-03-29
- 国际标准分类号：31.080
- 实施日期：1993-12-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学QJ 航天
- 内容简介：
本规范规定了SY6103~SY6137、SY6139~SY6173型瞬变电压抑制硅二极管(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。
《 QJ 2362-1992 阶跃恢复二极管筛选规范 》标准简介
- 标准名称：阶跃恢复二极管筛选规范
- 标准号：QJ 2362-1992
- 中国标准分类号：V25
- 发布日期：1992-03-05
- 国际标准分类号：31.080
- 实施日期：1992-12-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电子学QJ 航天
- 内容简介：
《 QJ 1907-1990 PIN二极管筛选规范 》标准简介
- 标准名称：PIN二极管筛选规范
- 标准号：QJ 1907-1990
- 中国标准分类号：V25
- 发布日期：1990-02-13
- 国际标准分类号：13.020
- 实施日期：1990-12-13
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：环保、保健和安全QJ 航天
- 内容简介：
《 JB/T 5837-1991 ZP系列2000A以上管壳额定整流二极管 》标准简介
- 标准名称：ZP系列2000A以上管壳额定整流二极管
- 标准号：JB/T 5837-1991
- 中国标准分类号：K46
- 发布日期：1991-10-24
- 国际标准分类号：29.200
- 实施日期：1992-10-01
- 技术归口：机械电子工业部西安电力电子技术研究所
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电气工程JB 机械
- 内容简介：
本标准规定了管壳额定整流二级管的极限值、特性值及其检验规则和依据。本标准适用于ZP2000、ZP2500、ZP3000型空腔封装整流二极管。
《 JB/T 5841-1991 ZH系列200A以上管壳颖定高压整流二极管 》标准简介
- 标准名称：ZH系列200A以上管壳颖定高压整流二极管
- 标准号：JB/T 5841-1991
- 中国标准分类号：K46
- 发布日期：1991-10-24
- 国际标准分类号：29.200
- 实施日期：1992-10-01
- 技术归口：西安电力电子技术研究所
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：电气工程JB 机械
- 内容简介：
本标准规定了管壳额定高压整流二极管的极限值、特性值及其检验规则和依据。本标准适用于ZH200、ZH500、ZH800和ZH1000型空腔封装高压整流二极管。
《 GB/T 15651.7-2024 半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管 》标准简介
- 标准名称：半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管
- 标准号：GB/T 15651.7-2024
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2024-03-15
- 国际标准分类号：31.260
- 实施日期：2024-07-01
- 技术归口：工业和信息化部（电子）
- 代替标准：
- 主管部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学光电子学、激光设备
- 内容简介：
国家标准《半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了光电二极管（以下简称“PDs”）和光电晶体管（以下简称“PTs”）的术语、基本额定值和特性以及测试方法。本文件适用于光电二极管和光电晶体管。
《 GB/T 43787-2024 曲面有机发光二极管（OLED）光源光学性能测试方法 》标准简介
- 标准名称：曲面有机发光二极管（OLED）光源光学性能测试方法
- 标准号：GB/T 43787-2024
- 中国标准分类号：L53
- 发布日期：2024-03-15
- 国际标准分类号：31.120
- 实施日期：2024-07-01
- 技术归口：全国电子显示器件标准化技术委员会
- 代替标准：
- 主管部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学电子显示器件
- 内容简介：
国家标准《曲面有机发光二极管（OLED）光源光学性能测试方法》由TC547（全国电子显示器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件描述了显示用曲面有机发光二极管（OLED）光源（以下简称“曲面光源”）的光学性能测试方法。本文件适用于围绕一轴弯曲的曲面光源的光学性能测试。
暂无更多检测标准，请联系在线工程师。
结语
二极管作为电子元件中的核心组成部分，其性能的优劣直接影响到电路的整体效果。通过科学合理的检测方法，结合合适的测试仪器，能够全面评估二极管的质量，确保其在实际应用中的稳定性和长寿命。随着电子技术的不断发展，对二极管的检测要求也愈加严格。作为工程师，我们需要不断优化检测流程，提升检测精度，以应对日益复杂的电子产品设计需求。在此过程中，科学的检测手段无疑是保障电子设备质量的基石。
结语
以上是关于二极管检测：从原理到实践的全方位解析的介绍，如有其它问题请 联系在线工程师 。
备案号：